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光學器件的恒溫恒濕測試方案
點擊次數(shù):227 更新時間:2025-09-02

       使用勤卓(KINGJO)恒溫恒濕試驗箱對光學器件進行可靠性測試,核心是模擬嚴苛環(huán)境以評估其性能衰減和失效模式。以下是關(guān)鍵步驟和要點:

1. 明確測試標準與目的
首先,確定測試依據(jù)(如國標、行標或企業(yè)內(nèi)部標準)和考核目標(如透鏡霧化、涂層脫落、光纖性能劣化等)。

2. 設(shè)計測試剖面(核心)
根據(jù)光學器件的應(yīng)用場景,在設(shè)備控制器上設(shè)置合理的環(huán)境應(yīng)力:

  • 高溫高濕測試:常用85℃/85%RH。用于加速評估材料吸濕、金屬部件腐蝕、涂層老化、有機光學材料水解等失效。持續(xù)時間可從48h至1000h不等。

  • 高低溫循環(huán)測試:設(shè)置溫度循環(huán)范圍(如-40℃至+85℃),并設(shè)定合理的升降溫速率(勤卓設(shè)備需確認其速率滿足要求)。用于考核不同材料熱膨脹系數(shù)不匹配導致的開裂、脫膠,以及熱疲勞失效。

  • 低溫/低溫高濕:測試低溫環(huán)境下光學性能是否變化及結(jié)露、結(jié)冰的影響。

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3. 測試執(zhí)行與監(jiān)控

  • 樣本準備:將光學器件放入箱內(nèi),確保周圍氣流暢通,不重疊遮擋。

  • 中間檢測:在測試多個周期后,可取出樣品,在標準實驗室環(huán)境下恢復后,進行關(guān)鍵光學性能指標的測量(如透過率、折射率、焦距、像質(zhì)、散射等),并記錄衰減情況。

  • 最終檢測:測試結(jié)束后,進行全面的外觀檢查(霉變、腐蝕、裂紋)和性能測試,與初始數(shù)據(jù)對比。

4. 結(jié)果與結(jié)論
分析性能衰減是否超出可接受范圍,判斷失效模式并追溯至設(shè)計或工藝缺陷,為改進提供依據(jù)。

勤卓恒溫恒濕試驗箱設(shè)備使用注意:操作前需熟讀手冊,正確設(shè)置參數(shù),并確保箱體內(nèi)濕度均勻性滿足光學測試的精密要求。測試時需使用去離子水,并定期維護加濕器等部件,以保證測試的準確性和重復性。


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